Въведение в сканиращия електронен микроскоп
Сканиращият електронен микроскоп (сканиращ електронен микроскоп, SEM) е широкомащабен прецизен инструмент, използван за микро-топография с висока резолюция. Той има характеристиките на голяма дълбочина на рязкост, висока разделителна способност, интуитивно изображение, силно триизмерно усещане, широк диапазон на увеличение, а пробата, която трябва да се тества, може да се върти и наклони в триизмерно пространство.